Технология самотестирования накопителей S M A R T (SelfMonitoring Analysis and Reporting Technology)
Технология самотестирования накопителей S.M.A.R.T. (Self-Monitoring Analysis and Reporting Technology)
В самое последнее время для обслуживания жестких дисков начали применять технологию самотестирования накопи телей S.M.A.R.T. (Self-Monitoring Analysis and Reporting Technology) предложили корпорации IBM и Compaq на базе ранее разработанных ими технологий PFA (Predictive Failure Analysis) и DFP (Drive Failure Prediction)
Суть S.M.A.R.T.-технологии заключается в том, что сам винчестер отслеживает состояние своей работоспособности и в любой момент, по команде с интерфейса может сообщить эту информацию управляющей программе.
Новая технология стандартизирована организацией ANSI при разработке нового IDE-интерфейса — АТА-3. В настоящее время практически все производители НЖМД (Fujitsu, IBM, Maxtor, Quantum, Seagate, Western Digital) используют S.M.A.R.T.-технологию в своих новых накопителях.
Параметры, которые характеризуют состояние S.M.A.R.T.-накопителя, называются атрибутами надежности. Их значения хранятся в энергонезависимой памяти или на служебных дорожках НЖМД. Количество атрибутов может достигать тридцати.
По мере износа накопителя или при появлении сбоев в работе (в том числе и незаметных для пользователя) значения атрибутов изменяются.
Условно все атрибуты надежности можно разбить на две категории.
